Un étudiant de KAIST reçoit une distinction pour le meilleur article lors d’un symposium international
Points clés
- •Lee Jung-hyun, étudiant diplômé au laboratoire TERA de KAIST, a reçu la distinction Best Student Paper — Honorable Mention au Symposium international 2026 de l’IEEE sur la compatibilité électromagnétique, le signal et l’intégrité de l’alimentation, organisé à Dallas, au Texas.
- •Son article primé a appliqué la décomposition de Tucker pour compresser les données de réseau de distribution d’alimentation d’environ 695 pour 1 dans un test à 256 ports, tout en préservant la précision de reconstruction.
- •La méthode fondée sur les tenseurs vise les défis de distribution de l’alimentation et d’intégrité du signal dans des boîtiers semi-conducteurs densément intégrés, notamment la mémoire à large bande passante et les systèmes à chiplets.
- •Le symposium de l’IEEE, organisé chaque année depuis 1959, est une conférence internationale de premier plan qui attire 1 500 à 2 000 ingénieurs et chercheurs de l’industrie, du monde universitaire et d’institutions publiques.
- •KAIST TERA Lab, dirigé par le professeur Kim Joung-ho, se concentre sur le packaging de semi-conducteurs à haut débit, l’intégrité du signal et de l’alimentation, ainsi que sur les architectures de mémoires de nouvelle génération, dont HBM.

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Un étudiant de KAIST reçoit une distinction pour le meilleur article lors d’un symposium international
Publié le 13 août 2026, à 11:42 KST
Lee Jung-hyun / Avec l’aimable autorisation du Korea Advanced Institute of Science & Technology TERA Lab
Lee Jung-hyun, étudiant diplômé au laboratoire TERA du Korea Advanced Institute of Science & Technology (KAIST), a reçu la distinction Best Student Paper — Honorable Mention lors du Symposium international 2026 de l’Institute of Electrical and Electronic Engineers sur la compatibilité électromagnétique, le signal et l’intégrité de l’alimentation, a indiqué jeudi le groupe de recherche sur les semi-conducteurs.
Le symposium s’est tenu du 3 au 7 août à Dallas, au Texas. Lee a été récompensé pour son article, “Physics-Aware Tensor Learning for Data-Efficient Multi-Port Power Distribution Network Analysis.”
L’article a présenté une nouvelle méthode fondée sur les tenseurs pour stocker et analyser efficacement de grands volumes de données de réseau de distribution d’alimentation (PDN) générées dans des boîtiers semi-conducteurs avancés tels que la mémoire à large bande passante (HBM) et les systèmes à chiplets. Garantir une distribution d’alimentation stable sur des centaines de ports dans ces boîtiers fortement intégrés constitue un défi croissant pour l’industrie des semi-conducteurs, à mesure que la demande en accélérateurs d’IA pousse les fabricants vers des empilements HBM toujours plus importants et des conceptions multi-puces plus complexes, où l’intégrité du signal et de l’alimentation influe directement sur les performances et la fiabilité.
En utilisant une technique mathématique appelée décomposition de Tucker pour extraire des motifs représentatifs à partir des données, l’équipe de recherche a obtenu un taux de compression d’environ 695 pour 1 dans un test portant sur un PDN à 256 ports, tout en maintenant la précision de reconstruction visée.
« Je me suis intéressé aux tenseurs en étudiant la manière dont l’intelligence artificielle et les supercalculateurs traitent des données à haute dimension, et j’ai appliqué à cette recherche une idée issue de ce processus aux problèmes d’intégrité du signal et de l’alimentation », a déclaré Lee.
« À l’avenir, j’espère vérifier la précision et l’interprétabilité des représentations fondées sur les tenseurs dans des structures de boîtiers semi-conducteurs plus réalistes. »
Le symposium est l’une des principales conférences internationales mondiales sur la compatibilité électromagnétique, l’intégrité du signal et l’intégrité de l’alimentation. Organisé chaque année depuis 1959, il réunit environ 1 500 à 2 000 ingénieurs et chercheurs issus de l’industrie, du monde universitaire et d’institutions publiques.
KAIST TERA Lab est un groupe de recherche spécialisé dans le packaging de semi-conducteurs à haut débit, l’intégrité du signal et de l’alimentation, ainsi que les architectures de mémoires de nouvelle génération, notamment HBM et la mémoire flash à haut débit. Le groupe est dirigé par le professeur Kim Joung-ho, connu pour avoir présenté le concept fondamental, la conception et l’architecture de HBM.